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| 管道電位測(cè)量時(shí)，出現(xiàn)電壓降的因素 |
1.測(cè)量電路：除管道金屬/電解質(zhì)界面以外的電壓降是由儀表電流流經(jīng)單個(gè)電阻所引起的電壓降的總和。
2.管道：管壁內(nèi)流動(dòng)的電流會(huì)產(chǎn)生電壓降。當(dāng)參比電極不在管道連接點(diǎn)附近，并且管道所載電流較大時(shí)，就應(yīng)該考慮電壓降和電流的流向。之所以要有這方面的考慮是因?yàn)�，如果管道電流引起較大的電壓降的話，在管道對(duì)電解質(zhì)電位測(cè)量中將會(huì)出現(xiàn)誤差。
3.電解質(zhì)：在施加陰極保護(hù)的情況下，進(jìn)行管道對(duì)電解質(zhì)電位測(cè)量時(shí)，應(yīng)考慮參比電極與金屬/電解質(zhì)界面之間電壓降。在犧牲陽極或強(qiáng)制電流輔助陽極附近所得到的測(cè)量結(jié)果中含有較大的電壓降。
4.覆蓋層：大多數(shù)覆蓋層通過減少管道表面與環(huán)境之間的接觸為管道提供保護(hù)。由于覆蓋層較弱的離子滲透性，它們阻止了電流的流動(dòng)。 |
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